Pro návštěvníky na Electronica 2024

Zarezervujte si svůj čas hned!

Stačí několik kliknutí, abyste si rezervovali své místo a získali lístek na stánek

Hall C5 Booth 220

Předběžná registrace

Pro návštěvníky na Electronica 2024
Všichni se zaregistrujete! Děkujeme vám za schůzku!
Jakmile ověříme vaši rezervaci, zašleme vám vstupenky stánku e -mailem.
domů > produkty > Integrované obvody (IC) > Logika - speciální logika > SN74BCT8373ADWR
RFQs/Objednávka (0)
Čeština
Čeština
6646755

SN74BCT8373ADWR

Žádost o nabídku

Vyplňte prosím všechna požadovaná pole s vašimi kontaktními informacemi. Klikněte „Odeslat RFQ“, brzy vás kontaktujeme e -mailem.Nebo nám pošlete e -mail:info@ftcelectronics.com
Online poptávka
Specifikace
  • Part Number
    SN74BCT8373ADWR
  • Výrobce / značka
  • Množství zásob
    Na skladě
  • Popis
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Stav volného vedení / RoHS
    Bez olova / V souladu RoHS
  • Napájení
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Dodavatel zařízení Package
    24-SOIC
  • Série
    74BCT
  • Obal
    Tape & Reel (TR)
  • Paket / krabice
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Provozní teplota
    0°C ~ 70°C
  • Počet bitů
    8
  • Typ montáže
    Surface Mount
  • Úroveň citlivosti na vlhkost (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Typ logiky
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Stav volného vedení / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Detailní popis
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Číslo základní části
    74BCT8373
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Popis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Popis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Popis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Popis: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě

Zvolte jazyk

Kliknutím na prostor pro ukončení