Pro návštěvníky na Electronica 2024

Zarezervujte si svůj čas hned!

Stačí několik kliknutí, abyste si rezervovali své místo a získali lístek na stánek

Hall C5 Booth 220

Předběžná registrace

Pro návštěvníky na Electronica 2024
Všichni se zaregistrujete! Děkujeme vám za schůzku!
Jakmile ověříme vaši rezervaci, zašleme vám vstupenky stánku e -mailem.
domů > produkty > Integrované obvody (ICS) > Logika - speciální logika > SN74BCT8245ANT
RFQs/Objednávka (0)
Čeština
Čeština
891821

SN74BCT8245ANT

Žádost o nabídku

Vyplňte prosím všechna požadovaná pole s vašimi kontaktními informacemi. Klikněte „Odeslat RFQ“, brzy vás kontaktujeme e -mailem.Nebo nám pošlete e -mail:info@ftcelectronics.com
Online poptávka
Specifikace
  • Part Number
    SN74BCT8245ANT
  • Výrobce / značka
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Množství zásob
    Na skladě
  • Popis
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
  • Stav volného vedení / RoHS
    Bez olova / V souladu RoHS
  • ECAD model
  • Napájení
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Dodavatel zařízení Package
    24-PDIP
  • Série
    74BCT
  • Obal
    Tube
  • Paket / krabice
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • Provozní teplota
    0°C ~ 70°C
  • Počet bitů
    8
  • Typ montáže
    Through Hole
  • Úroveň citlivosti na vlhkost (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Typ logiky
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Stav volného vedení / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Detailní popis
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
  • Číslo základní části
    74BCT8245

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
Lodní doprava
Způsob platby
Následuje produkty související s „SN74BCT8245ANT“.
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Popis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Popis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Popis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Popis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Popis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Výrobci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na skladě
RFQ
Jako jediný veřejný distributor na otevřeném trhu máme jedinečnou kombinaci globálního přístupu, odbornosti v oblasti výrobního průmyslu a prokázané kvality.Díky tomu můžeme vytvořit přizpůsobená řešení pro end-to-end dodavatelský řetězec pro elektronické komponenty získávání a správu zásob.
Následuj nás
Všeobecné obchodní podmínkyPolitika porušeníPožádat o nabídkuO násKontaktujte násZprávyMapa webu

Zvolte jazyk

Kliknutím na prostor pro ukončení

Aktuální jazyk

Vyberte svou zemi nebo region.